探針測(cè)試臺(tái):
該設(shè)備主要用于半導(dǎo)體器件芯片的中測(cè)，與相應(yīng)測(cè)試儀器配接后，可自動(dòng)完成對(duì)集成電路芯片及各種晶體管芯的電參數(shù)測(cè)試及功能測(cè)試。